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FE-SEM Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (JEOL JSM-6700F)

Forschungsinfrastruktur/Equipment: Gerät

Details zu Ausstattungen/Einrichtungen

Beschreibung

mit energie-dispersivem Röntgenspektrometer (Oxford Instruments INCA300), Sekundärelektronenkontrast (SE), In-Lens-SE, Rückstreuelektronenkontrast (BSE)

Forschungsservice (CoreNAT - Naturwissenschaftliche Fakultät)

  • Materialanalytik

Forschungstechniken

  • Elektronenmikroskopie > Rasterelektronenmikroskopie (REM)
  • Elektronenmikroskopie > Elementanalyse
  • Elektronenmikroskopie