Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-7610F mit Bruker EDS System

Das Rasterelektronenmikroskop ist mit einer Schottky-Feldemissions-Kathode sowie zwei leistungsfähigen EDS-Detektoren ausgestattet. Diese ermöglichen eine qualitative chemische Analyse von Phasen mit hoher Nachweisgrenze und die Erstellung von EDS-Maps von natürlichen oder experimentellen Proben. Die Ortsauflösung liegt für reine bildgebende Analysen im nm-Bereich. Für Aufnahmen stehen folgende Detektoren zur Verfügung: BSE, SEI und CL.