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Spektrales Ellipsometer Sentech SE 800

Ausstattung/Einrichtung: Gerät

    Details zu Ausstattungen/Einrichtungen

    Beschreibung

    Spektrales Ellipsometer für runde Wafer bis 200 mm Durchmesser (auch Solar), 250-800 nm Wellenlänge, Stage für automatisiertes Mapping der Oberfläche (SENTECH SE 800)