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XPS Photoelektronen-Röntgenspektrometer (PHI VersaProbe III, mit UPS, Auger, Ar-Cluster-Beam etc.)

  • Andreas Schaate (Leitung)
Institut für Anorganische Chemie

Forschungsinfrastruktur/Equipment: Großgerät

    Details zu Ausstattungen/Einrichtungen

    Beschreibung

    Elementaranalyse auf Oberflächen, typischer Messsbereich ca 10 nm, Tiefenprofilmessungen mttels Ar-Custer-Beschuss, Bindungs-/Oxidationszustand der Elemente bestimmbar

    Details

    Name/BezeichnungVersaProbe III
    HerstellerPhysical Electronics, Inc.

    DFG-Gerätegruppenschlüssel

    • Instrumentelle Analytik und Geräte der Präparativen Chemie / Spektrometer (Massen-, NMR-, ESR-) / 1780 Photoelektronenspektrometer (PES, UPS, XPS)

    Forschungsservice (CoreNAT - Naturwissenschaftliche Fakultät)

    • Materialanalytik
    • Oberflächenanalytik

    Forschungstechniken

    • Oberflächenanalytik
    • Spektroskopie > Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)

    Kontaktinformationen

    Telefon05117623698
    E-Mail-Adressen[email protected]
    WebadressenCoreNAT Materialanalytik, CoreNAT Oberflächenanalytik