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A New Method for Multi-Scale Fringe-Projection 3D Scanner Evaluation and for Modeling Surface Normal Dependent Influencing Factors of Local Phase Measurement Uncertainty

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

OriginalspracheEnglisch
Titel des SammelwerksThe 1st Sino-German workshop on intelligent sensing and metrology: Proceedings
Untertitel26-27 July, Hannover, Qingdao, online
Herausgeber/-innenEduard Reithmeier, Xiang Peng
Herausgeber (Verlag)TEWISS Verlag, TEWISS-Technik und Wissen GmbH
ISBN (Print)978-3-95900-672-9
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2021

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