Zur Hauptnavigation wechseln Zur Suche wechseln Zum Hauptinhalt wechseln

Nonlinear optical switching in thin film coatings in relation to the damage threshold

  • Morten Steinecke*
  • , Kevin Kiedrowski
  • , Marco Jupé
  • , Andreas Wienke
  • , Detlev Ristau
  • *Korrespondierende*r Autor*in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

Abstract

We demonstrate a novel concept for an all-optical switch based on the optical Kerr-effect in thin film interference coatings. The switching between transmittance and reflectance relies on highly Kerr-active coating materials in combination with large internal intensity enhancement in thin film interference coatings. The paper investigates the switching performance as well as its relation to the laser induced damage threshold of these novel components. A modulation depth of 30 % was achieved without damage to the component, which very promising for later applications as power limiters or mode locking components.

OriginalspracheEnglisch
Titel des SammelwerksLaser-Induced Damage in Optical Materials 2022
Untertitel54th Annual Laser Damage Symposium Proceedings
Herausgeber/-innenChristopher Wren Carr, Detlev Ristau, Carmen S. Menoni
Herausgeber (Verlag)SPIE
ISBN (elektronisch)9781510656611
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2022
Veranstaltung54th Annual Laser Damage Symposium - Laser-Induced Damage in Optical Materials 2022 - Rochester, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 18 Sept. 202221 Sept. 2022

Publikationsreihe

NameProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Band12300
ISSN (Print)0277-786X
ISSN (elektronisch)1996-756X

Konferenz

Konferenz54th Annual Laser Damage Symposium - Laser-Induced Damage in Optical Materials 2022
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtRochester
Zeitraum18 Sept. 202221 Sept. 2022

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Elektronische, optische und magnetische Materialien
  • Physik der kondensierten Materie
  • Angewandte Informatik
  • Angewandte Mathematik
  • Elektrotechnik und Elektronik

Dieses zitieren