Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen

Peter Reiser; Heyno Garbe; Dietmar Giselbrecht

Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen

Peter Reiser
, Heyno Garbe
, Dietmar Giselbrecht

Institut für Grundlagen der Elektrotechnik und Messtechnik

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

Titel in Übersetzung	Dietmar Giselbrecht: Increased sensitivity at near-field measurements on metal housings
Originalsprache	Deutsch
Titel des Sammelwerks	EMC 2006
Untertitel	International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility
Seiten	245-252
Seitenumfang	8
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2006
Veranstaltung	International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility, EMC 2006 - Düsseldorf, Deutschland Dauer: 7 März 2006 → 9 März 2006

Publikationsreihe

Name	EMC 2006 - International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility

Konferenz

Konferenz	International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility, EMC 2006
Land/Gebiet	Deutschland
Ort	Düsseldorf
Zeitraum	7 März 2006 → 9 März 2006

ASJC Scopus Sachgebiete

Elektrotechnik und Elektronik

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Reiser, P, Garbe, H & Giselbrecht, D 2006, Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen. in EMC 2006: International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility. EMC 2006 - International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility, S. 245-252, International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility, EMC 2006, Düsseldorf, Deutschland, 7 März 2006.

Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen. / Reiser, Peter; Garbe, Heyno; Giselbrecht, Dietmar.
EMC 2006: International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility. 2006. S. 245-252 (EMC 2006 - International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

TY - GEN

T1 - Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen

AU - Reiser, Peter

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PY - 2006

Y1 - 2006

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/84881423615

M3 - Aufsatz in Konferenzband

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SN - 9783800729333

T3 - EMC 2006 - International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility

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EP - 252

BT - EMC 2006

T2 - International Trade Fair and Conference on Electromagnetic Compatibility, EMC 2006

Y2 - 7 March 2006 through 9 March 2006

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