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Steps on current-voltage characteristics of a silicon quantum dot covered by natural oxide

  • S. V. Vyshenski*
  • , U. Zeitler
  • , R. J. Haug
  • *Korrespondierende*r Autor*in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

Abstract

Considering a double-barrier structure formed by a silicon quantum dot covered by natural oxide with two metallic terminals, we derive simple conditions for a steplike voltage-current curve. Due to standard chemical properties, doping phosphorus atoms located in a certain domain of the dot form geometrically parallel current channels. The height of the current step typically equals (1.2 pA)N, where N = 0, 1, 2, 3... is the number of doping atoms inside the domain, and only negligibly depends on the actual position of the dopants. The found conditions are feasible in experimentally available structures.

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)568-571
Seitenumfang4
FachzeitschriftJETP letters
Jahrgang76
Ausgabenummer9
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 10 Nov. 2002

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Physik und Astronomie (sonstige)

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